Nyheder

Ultrahøj opløsning på 512×512 (262144) fasepunkter, der opnår højpræcisionsbølgefrontmåling i 900nm til 1200nm båndet, som kan bruges til optisk systemaberrationsmåling, optisk systemkalibrering, måling af intern gitterfordeling, metasurface, superlinse bølgefrontmåling mv.

Specielt udviklet til bølgefrontanalyse i højhastighedsindustri-, forsvars- og videnskabelige forskningsscenarier såsom flyvende skud og flowfelter, den har en ultrahøj opløsning på 420×420 (176400) fasepunkter, en bredspektret respons på 400-1100nm, og 107 rammer med højhastighedssampling, der giver et ideelt bølgefrontsfølende måleværktøj til waferoverfladen ruhedsdetektion, siliciumbaseret og glassubstratmikromorfologimåling, aerodynamisk optik, højhastighedsflowfelt, gasplasmadensitetsmåling osv.

​Designet til at assistere videnskabelig forskning og højpræcisions industrielle scenarier, højere opløsning kan give mere detaljerede oplysninger i bølgefrontdetektion, ultrahøj opløsning på 512×512 (262144) fasepunkter, 400-1100nm bredspektret respons, 10 billeder med fuld- opløsning i realtid 3D resultatvisning, der giver ideelle bølgefrontsfølende måleværktøjer til laserstrålebølgefront detektion, adaptiv optik, plan overflademåling, optisk systemkalibrering, optisk vinduesdetektion, optisk sfærisk overflademåling, overfladeruhedsdetektion, overflademikrokontur osv.

Udviklet specifikt til praktisk interferometrisk måling i industri, videnskabelig forskning og nationalt forsvar. Høj opløsning på 300×300 (90.000) fasepunkter, 400-1100nm bred spektral respons, 10 billeder med fuld opløsning i realtid 3D resultatvisning, hvilket giver et ideelt bølgefrontsfølende måleværktøj til laserstrålebølgefrontdetektion, adaptiv optik, optisk system kalibrering, optisk vinduesdetektion, optisk plan overfladeform, sfærisk overfladeformmåling, overflade ruhed, overflademikrokonturdetektion mv.