FIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nm

FIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nm

BojiongFIS4 Ultra-høj opløsning bølgefrontsensor(rEfrigereret version) 400-900nm, der bygger på den eksisterende UHR-serie, integrerer et højeffektivt halvlederkølesystem, hvilket reducerer sensorens termiske støj under langvarig drift med høj frame. Udnyttelse af 512 × 512 ultrahøj tæthedsfase-detektionspoint og præcis temperaturkontrol, det opretholder målingstabiliteten bedre end 1,5 nm RMS i omgivelsestemperaturer, der spænder fra -10 ° C til 45 ° C, hvilket gør den særlig velegnet til krævende anvendelser, såsom højeffekt laserdetektion, langvarig online overvågning og ultra-fine bølgefront diagnosticering. FIS4-ultrahøj opløsningsbølgefront-sensor (kølet version) 400-900NMSOPPORTS 5 rammer/anden realtidsudgang af alle parametre og har multi-bånd-adaptiv analysefunktioner, der giver pålidelig højdynamisk, lav-støj målestøtte til præcision optisk fremstilling og avanceret videnskabelig forskning.

BojiongFIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nm Indledning

Bojiong FIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nmer vores virksomheds nye flagskibsoptiske måleinstrument, der tilbyder overlegen ydeevne og pålidelig kvalitet. Det overholder det strenge ISO 9001 kvalitetsstyringssystem og er certificeret af China National Institute of Metrology (NIM) for sporbarhed. Det leveres med et års garanti, der sikrer nøjagtigheden og pålideligheden af ​​måledata. Denne sensor bruger et proprietært common-sti-interferometrisk optisk system og realtidsbølgefront-nedbrydningssystem, der eliminerer traditionelle faseskiftere og referencespejle. Dette system fungerer stabilt i miljøer med høj vibration, hvilket muliggør 512 × 512 ultrahøj opløsningsbølgefrontmålinger. Med en ultrahøj måleenøjagtighed på 2 nm RMS, et bredt dynamisk interval på ≥160 μm og en 5-ramme/anden realtidsudgang af alle parametre, fanger FIS4 ultra-højopløsningsbølgefrontsensor (kølet version) 400-900NMACCURLYLIGT transient bølgefront ændringer og høj ordre. DeFIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nmer vidt anvendelig til laserstrålebølgefrontmåling, adaptiv optik, plan overflademåling, optisk systemkalibrering, optisk vinduesinspektion, optisk sfærisk overflademåling, inspektion af overfladefremhed og overflademikroprofilering.

Bojiong FIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nmParameter (specifikation)

Bojiong FIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nm Funktion og anvendelse

Siden 2006 har professor Yang Yongys team ved Zhejiang University arbejdet med Common-Path Interferometry Design og Real-Time Wavefront Reconstruction-algoritmer i 17 år. Holdet har med succes lanceret det bredspektrede FIS4-serie Wavefront-sensor, der markerer et stort gennembrud i mit lands optiske sensingfelt med høj præcision.

Denneultra- Højopløsningsbølgefrontsensor (kølet version) Anvender en innovativ enkeltoptisk-sti-arkitektur, der eliminerer behovet for en optisk opslag eller faseskifter, hvilket muliggør en virkelig plug-and-play-oplevelse. Dens ekstraordinære ydelse demonstreres i flere dimensioner: stabil drift uden en vibrationsisolationsplatform, der fanger data med høj præcision i realtid; Høj følsomhed på 2 nm RMS og en opløsning på 512 × 512 (262.144 fasepunkter) muliggør klar visualisering af mikroskopiske detaljer i objektet, der blev testet; Og i en kompakt pakke i knytnævestørrelse kan den prale af en bred spektral respons på 400-900 nm og leverer 3D-bølgefront-skærm i fuld opløsning, realtids 3D-bølgefront med 5 billeder i sekundet. FIS4 -serien er designet til krævende videnskabelig forskning og præcision industrielle inspektionsscenarier. Det kan nøjagtigt tjene flere avancerede felter, såsom laserstråle-kvalitetsanalyse, adaptivt optik-systemfejlbugging, plan/sfærisk optisk komponentoverflademåling, optisk systemjustering og kalibrering, optisk vinduesinspektion og overfladegruppe og mikroprofilkarakterisering, tilvejebragt et ideelt kernemålingsværktøj til moderne optisk måling.

BojiongFIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nm Anvendelse

BojiongFIS4 Ultra-High-Opløsning Bølgefrontsensor (kølet version) 400-900nm Detaljer

DeFIS4 Ultra-High-Opløsning BølgefroNT-sensor (kølet version) 400-900nmer baseret på en unik patenteret tilfældig kodet fire-bølgediffraktionsteknologi, som kan opnå bølgefront-selvinterferens i en enkelt optisk sti, og interferenseffekten dannes direkte på bagenden billedplan. Dette system reducerer markant afhængigheden af ​​sammenhængen mellem lyskilden og kan gennemføre interferensmåling med høj præcision i forbindelse med en konventionel billeddannelsesenhed uden behov for en faseskifter. DeFIS4 WAVEFRONT -sensorhar fremragende vibrationsmodstand og operationel stabilitet og kan stabilt opnå bølgefrontmåling på nanometerniveau, selv uden en vibrationsisolationsindretning. Sammenlignet med traditionelle mikrolener array-type Hartmann-sensorer kan FIS4 Wavefront-sensoren give tættere fasepunktprøvetagning, et bredere spektralt tilpasningsinterval og en højere dynamisk måling øvre grænse, samtidig med at man opretholder en mere konkurrencedygtig omkostningseffektivitet, hvilket gør det til en ideel løsning til at kræve optiske målingsscenarier.

Fig.1.Fase Imaging Principle baseret på fire-bølge lateral forskydningsinterferens ved hjælp af tilfældigt kodet hybridgitter (Rehg)

Fig.2.Least Square Wavefront Reconstruction fra fire-bølge lateral forskydning interferogrogram

DeFIS4 WAVEFRONT -sensor, med det meget integrerede design, enestående miljøtilpasningsevne, overlegen tidsmæssig opløsning og bred systemkompatibilitet, er blevet en banebrydende innovation inden for optisk metrologi. Dette produkt viser ikke kun et stort potentiale i videnskabelig forskning, men har også opnået høj anerkendelse i industrielle anvendelser. Oprindeligt brugt til præcisionsinspektion i traditionelle optiske workshops,FIS4 WAVEFRONT -sensorhar med succes serveret specialiserede felter såsom optisk komponentoverfladetest, laserstråle kvalitetsanalyse og adaptiv optik -systemkalibrering. Dets anvendelse er nu udvidet til at omfatte avancerede forskningsområder såsom biomedicinsk billeddannelse, nanopartikelsporing, karakterisering af metasurface-struktur og temperaturfeltovervågning, hvilket demonstrerer dens stærke tværfaglige evner.

Takket være dets kompakte mekaniske design,FIS4 WAVEFRONT -sensorKan let integreres i forskellige mikroskopi -billeddannelsessystemer og komplekse optiske platforme. Dens innovative arkitektur, der er baseret på princippet om generel interferometri, gør det muligt for enheden at opretholde nanometerniveau-måleenøjagtighed, selv i miljøer med høj vibration, hvilket sikrer stabil drift uden behov for yderligere vibrationsisoleringsenheder. Sensoren har også en-eksponeringsbølgefrontrekonstruktion, muliggør nøjagtig indfangning af højhastighedsdynamiske processer såsom væskebevægelse, partikeltransienter og laseroverførsel og tilvejebringelse af nøjagtig kvantitativ analyse.

I biomedicinsk forskning har FIS4-systemet med succes opnået etiketfrit, langvarigt, tredimensionelt kvantitativ faseafbildning af en række levende celler (herunder COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK og primære neuroner), hvilket reducerer fototoksicitet og giver en ny teknisk fremgangsmåde til undersøgelse af celledynamik. Systemets fase-forsinkelsesafbildningsevne muliggør også højkontrastafbildning af birefringente strukturer såsom kollagenfibre og cytoskelettet, hvilket markant fremmer forskning i vævsmekanik og patologi.

IsærFIS4 WAVEFRONT -sensorTeknisk arkitektur demonstrerer betydelig tværbandskalerbarhed. Dets designprincipper er blevet anvendt med succes til udviklingen af ​​faseafbildningssystemer i røntgenstråle, midtbølgeinfrarød (MWIR) og langbølgede infrarøde (LWIR) bånd, der leverer innovative måleopløsninger til materialevidenskab, termisk ledelse og national forsvarssikkerhed. I de senere år har sensoren også fundet udbredt anvendelse i nye felter, såsom Metasurface-fasemanipulationsevaluering og karakterisering af de optiske egenskaber ved to-dimensionelle materialer, hvilket demonstrerer dens betydelige værdi og brede anvendelighed som et grundlæggende forskningsværktøj.