FIS4 Ultraviolet Wavefront Sensor 200-400Nm

FIS4 Ultraviolet Wavefront Sensor 200-400Nm

DeBojiongFIS4 UV Wavefront Sensor 200-400Nm er et specialiseret instrument designet til målinger med høj præcision i 200–400nm UV- og dybe UV-bånd. Ved hjælp af et UV-forbedret detektionsmodul og UV-resistent optik opretholder sensoren en ultrahøj 512 × 512 rumlig opløsning og bedre end 2nm RMS-fasemålingsnøjagtighed selv ved korte bølgelængder. Ved hjælp af en proprietær tilfældigt kodet gitter og højtydende rekonstruktionsalgoritme, denFIS4 UV Wavefront SensorTilbyder overlegen interferensimmunitet, præcis måleevne og bred industriel kompatibilitet, hvilket muliggør stabil anvendelse i en række komplekse scenarier.

BojiongFIS4 UV Wavefront Sensor 200-400Nm Indledning

ThanBojiong  FIS4 Ultraviolet Wavefront Sensor 200-400Nm er vores virksomheds nye generation af optisk inspektionsudstyr med høj præcision. Det overholder ISO 9001 -standarder for kvalitetsstyringssystem og er certificeret af China Institute of Metrology (NIM). Det leveres med en års kvalitetsgaranti. De FIS4 UV Wavefront -sensorAnvender en unik UV-common-path-interferometerstruktur og højdynamisk optisk design, hvilket resulterer i fremragende vibrationsmodstand og stabilitet. Uden yderligere vibrationsisoleringsforanstaltninger leverer den meget gentagne og pålidelige målinger i krævende anvendelser såsom litografimaskine optisk kalibrering, UV -mikromachining og biokemisk test. Plug-and-play-drift sikrer let betjening og vedligeholdelse.

BojiongFIS4 UV Wavefront Sensor 200-400Nm Parameter (specifikation)

BojiongFIS4 UV Wavefront Sensor 200-400Nm Funktion og anvendelse

Siden 2006 har professor Yang Yongys team ved Zhejiang University dedikeret 17 år til udviklingen af ​​Wide-Spectrum FIS4-serienBølgefrontsensorer, baseret på en fælles-path-interferometriarkitektur og realtidsbølgefrontrekonstruktionsalgoritmer. Sensorerne tilbyder følgende nøglefunktioner:

· Ingen optisk vibrationsisolering krævet, hvilket sikrer stærk miljøtilpasningsevne

· Op til 2nm RMS -faseopløsning for enestående nøjagtighed

· Enkelt optisk sti-design eliminerer behovet for referencelys, hvilket muliggør plug-and-play-operation

· Kompakt design til let integration og implementering

DeFIS4 Ultraviolet Wavefront Sensor 200-400Nmer designet til applikationer i præcision optisk behandling, forsvar og halvlederfremstilling. Med en høj opløsning på 512 × 512 (262.144) fasepunkter, en bred spektral respons fra 200–400Nm og 10-frame fuld opløsning i realtid 3D-skærm, giver den en meget pålidelig bølgefront-sensingsopløsning til anvendelser, såsom optisk systemafviklingsmåling, optisk kalibrering, Wafer overfladeinspektion og optisk bølgefront-sfærere overfladeanalyseanalyse.

BojiongFIS4 UV Wavefront Sensor 200-400Nm Anvendelse

BojiongFIS4 UV Wavefront Sensor 200-400Nm Detaljer

De FIS4 Ultraviolet Wavefront Sensor 200-400Nmer baseret på den patenterede teknologi med tilfældigt kodet fire-bølgediffraktion, hvilket muliggør ægte enkeltstråle selvinterferensmåling. Denne teknologi forenkler markant den optiske sti-struktur og understøtter ikke kun laserlyskilder, men også bredspektret lyskilder såsom LED'er og halogenlamper.FIS4 UV Wavefront Sensor Har fremragende modstand mod miljømæssig interferens og kan opnå stabil måling med nanoskala -præcision i almindelige eksperimentelle miljøer uden vibrationsisoleringsanordninger. Sammenlignet med Hartmann -sensorer baseret på mikrolener arrays,FIS4 UV Wavefront Sensor Opnå betydelige forbedringer i flere ydelsesdimensioner: Higher Phase Point Resolution (op til 262.144 point), et bredere spektralt tilpasningsområde, større måling af dynamisk rækkevidde og åbenlyse fordele i omfattende omkostningsydelse.

Fig.1.Fase Imaging Principle baseret på fire-bølge lateral forskydningsinterferens ved hjælp af tilfældigt kodet hybridgitter (Rehg)

Fig.2.Least Square Wavefront Reconstruction fra fire-bølge lateral forskydning interferogram

DeFIS4 WAVEFRONT SENSEr har fremkommet som et kraftfuldt og meget alsidigt præcisionsværktøj i videnskabelig forskning og industriel inspektion på grund af dets kompakte struktur, høje miljø robusthed, fremragende tidsmæssig opløsning og stærk kompatibilitet med eksisterende mikroskopisystemer. Oprindeligt blev det primært anvendt i traditionelle optiske workshop -testscenarier, herunder optisk element overfladeprofilering, evaluering af laserstråle kvalitet og adaptiv optik -systemkorrektion. I dag er dens anvendelsesomfang udvidet markant og omfatter forskellige banebrydende felter såsom biomedicinsk billeddannelse, nanopartikel lokalisering, metasurface-karakterisering og endda temperaturgradientmåling.

DeFIS4 WAVEFRONT -sensor Har et meget integreret design, der muliggør let integration med forskellige mikroskopiplatforme til hurtig implementering. Det er fremragende anti-vibrationsydelse sikrer stabil interferometrisk målingsnøjagtighed og gentagelighed, selv i barske miljøer. Enheden understøtter en enkelteksponering bølgefront erhvervelse, der pålideligt fanger hurtige dynamiske processer til kortvarig fænomenforskning. I biomedicinske anvendelser har FIS4 med succes aktiveret etiketfrit, højopløselig realtidsafbildning af forskellige levende celler-inklusive COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK og Neuron Celler-hvilket giver et kraftfuldt værktøj til celledynamikundersøgelser.

DerudoverFIS4 WAVEFRONT -sensor Understøtter fasehæmning af billeddannelse, som kan generere billeder med høj kontrast af anisotropiske biologiske væv og subcellulære strukturer, såsom kollagenfibre og cytoskeletale netværk. Denne teknologi er ikke begrænset til det synlige lysbånd, men er blevet udvidet til faseafbildning i X-Ray, Mid-Wave Infrared (MWIR) og Long-Wave infrared (LWIR) Tilpasningsevne i multispektral og tværfaglig forskning. I de senere år,    FIS4 WAVEFRONT -sensor Har også fundet vigtige anvendelser i forskningen af ​​nye materialer, såsom metasurface-modulation og karakterisering af de optiske egenskaber ved to-dimensionelle materialer, hvilket fuldt ud afspejler dets forskellige værdier og potentiale inden for avanceret optik og materialevidenskab.