FIS4 NIR Wavefront Sensor

Vores FIS4 NIR Wavefront-sensorer er ekspert udformet til at imødekomme de krævende krav til optisk analyse med høj præcision, hvilket giver vores klientel et pålideligt instrument for at sikre den overlegne kvalitet af deres produkter og operationelle processer.  Ved at integrere disse sensorer i deres arbejdsgange kan vores kunder forudse en betydelig forbedring i både produktekspertise og produktionseffektivitet.

Den ekstraordinære højopløsning og omfattende bølgelængdeområde for Bojiong FIS4 NIR Wavefront -sensoren gør det til et optimalt instrument til både videnskabelig forskning og industriel implementering, især i sammenhænge, ​​der kræver omhyggelig måling og streng analyse.  Denne sensor er dygtig til at udføre målinger med høj præcisionsbølgefront inden for 900nm til 1200Nm bølgelængde-spektrum, hvilket kan prale af en opløsning på 512x512 pixels-totaliserer et imponerende 262.144 fasepunkter.  Dens design inkorporerer tankevækkende robusthed mod vibrationer og sikrer stabilitet for applikationer i den virkelige verden, hvilket muliggør høj-trofasthedsmålinger uden at nødvendiggøre detaljerede miljøkontrolmekanismer.  Denne iboende modstandsdygtighed strømline markant operationelle procedurer og forbedrer markant den samlede måleeffektivitet.

Specifikation ：

Funktion

◆ Wide Spectrum 900nm ~ 1200nm bånd

Pr

◆ 100% indenlandsk udviklet

◆ 2nm RMS -opløsning

◆ Stort dynamisk rækkevidde op til 260μm

◆ Ekstremt stærk vibrationsmodstand, ikke behov for optisk vibrationsisolering

◆ Med laserinterferensen Fringe Suppression Design

◆ Support kollimerede bjælker og store NA -konvergerende bjælker

 Anvendelse

Denne Bojiong FIS4 NIR Wavefront -sensor anvendt i optisk systemafvigelse måling, optisk systemkalibrering, materialet intern gitterfordelingsmåling, overhøjde, hyperlens bølgefrontmåling

Detaljer

Bojiong FIS4 NIR Wavefront Sensor er udviklet af et team af professorer fra Zhejiang University og Nanyang Technological University, Singapore. FIS4 NIR kombinerer patenteret tilfældig kodet fire-bølgediffraktionsteknologi med et infrarødt kamera for at blande sig i bageste billedplan. Det har lave krav til lyskilde sammenhæng og kræver ikke faseskift. Almindelige billeddannelsessystemer kan opnå interferometrisk måling. Det har ultrahøj vibrationsmodstand og ultrahøj stabilitet og kan opnå NM-niveau præcisionsmåling uden vibrationsisolering. Den ultrahøj opløsning på 512 × 512 (262144) fasepunkter opnår højpræcisionsbølgefrontmåling i 900nm til 1200NM-båndet, som kan bruges til aberrationsmåling af optisk systemmåling, optisk systemkalibrering, materiale intern gitterfordelingsmåling, metasurface, superlens bølgefrontmåling osv.