FIS4 NIR-C Wavefront-sensor

Vores FIS4 NIR-C Wavefront-sensorer er ekspert designet til nøje at opfylde de krævende standarder for optisk analyse med høj præcision, hvilket giver vores klientel et pålideligt instrument til at garantere det overlegne kaliber af deres produkter og operationelle metoder.  Ved problemfrit at integrere disse sensorer i deres operationelle rammer, kan vores kunder med sikkerhed forudse en betydelig udvikling inden for både produktekspertise og produktionseffektivitet.

Den enestående høj opløsning og omfattende bølgelængde-dækning af Bojiong Fis4 NIR-C Wavefront-sensoren placerer den som et uovertruffen værktøj til både videnskabelig undersøgelse og industriel implementering, især i scenarier, der nødvendiggør omhyggelig måling og streng analyse.  Denne sofistikerede sensor udmærker sig ved udførelse af høj præcisionsbølgefrontmålinger, der spænder over 900nm til 1200NM bølgelængdeområdet, hvilket kan prale af en bemærkelsesværdig 512x512 pixelopløsning-udtalelse til i alt 262.144 forskellige fasepunkter.  Dens design integrerer tankevækkende iboende vibrationsmodstand og sikrer robust stabilitet i praktiske omgivelser, hvilket letter målinger med høj trofasthed uden at kræve besværlige miljøkontrolsystemer.  Denne iboende modstandsdygtighed optimerer markant operationelle arbejdsgange og hæver signifikant den samlede måleafstrømning markant.

Specifikation ：

Funktion

◆ 100% indenlandsk udviklet

Pr

◆ Stort dynamisk rækkevidde op til 260 μ m

◆ Wide Spectrum 900NM ~ 1200nm bånd

◆ 2nm RMS -opløsning

◆ Ekstremt stærk vibrationsmodstand, ikke behov for optisk vibrationsisolering

◆ Med laserinterferensen Fringe Suppression Design

◆ Support kollimerede bjælker og store NA -konvergerende bjælker

◆ Brug af køling af halvlederkøling

 Anvendelse

Denne Bojiong Fis4 NIR-C Wavefront-sensor anvendt i optisk systemafvigelsesmåling, optisk systemkalibrering, måling af materiale internt gitterfordeling, hypersurface, hyperlens bølgefrontmåling

Bojiong detaljer

Bojiong FIS4 NIR-C (Semiconductor Cooling) Wavefront Sensor blev udviklet af et team af professorer fra Zhejiang University og Nanyang Technological University, Singapore. Det har en ultrahøj opløsning på 512 × 512 (262144) fasepunkter og kan opnå en højpræcisionsbølgefrontmåling i 900NM1200NM-båndet. Det kan bruges til aberrationsmåling af optisk system, optisk systemkalibrering, materiale intern gitterfordelingsmåling, metasurface, superlens bølgefrontmåling osv.

FIS4 NIR-C kombinerer den patenterede tilfældige kodede fire-bølgediffraktionsteknologi med et infrarødt kamera og interfererer i bageste billedplan. Det har lave krav til lyskilde sammenhæng og kræver ikke faseskift. Almindelige billeddannelsessystemer kan opnå interferometrisk måling. Det har ultrahøj vibrationsmodstand og ultrahøj stabilitet og kan opnå NM-niveau præcisionsmåling uden vibrationsisolering.