Wavefront Analyzer med ultrahøj opløsning har fremragende vibrationsmodstand, hvilket sikrer pålidelige målinger selv uden brug af en vibrationsisolerende platform. Det opnår præcision på nanometerniveau i data. Det udmærker sig ved analyse af overflademikroprofiler med en super høj opløsning på 512×512, svarende til 262.144 fasepunkter, hvilket sikrer omfattende dækning til detaljeret analyse. Dens brede spektrale responsområde fra 400 til 1100 nanometer gør den velegnet til forskellige lyskilder. Derudover tilbyder den 3D-resultatvisning i fuld opløsning i realtid med en hastighed på 10 billeder i sekundet, hvilket giver en dynamisk og øjeblikkelig visning af bølgefrontdataene. Dette gør det til en omfattende løsning til bølgefrontsføling og -målingsbehov.
Produktnavn |
Wavefront Analyzer med ultrahøj opløsning |
Bølgelængdeområde |
400nm~1100nm |
Målstørrelse |
10mm×10mm |
Rumlig opløsning |
26μm |
Sampling opløsning |
2048×2048 |
Faseopløsning |
512×512(262144pixel) |
Absolut nøjagtighed |
<2nmRMS |
Dynamisk rækkevidde |
10nmRMS |
Sampling rate |
162μm(256min) |
Behandlingshastighed i realtid |
32 fps |
Interface type |
10Hz (ved fuld opløsning) |
Dimension |
HAKKE |
Vægt |
70 mm×46,5 mm×68,5 mm |
Bølgelængdeområde |
omkring 240 g |
◆Ultrahøj opløsning på 512×512 (262144) fasepunkter
◆ Bredt spektrum 400nm ~ 1100nm bånd
◆ Enkeltkanals lys selvinterferens, intet referencelys påkrævet
◆2nm RMS høj fase opløsning
◆Ligesom billedbehandling, nem og hurtig optisk vejkonstruktion
◆ultra-høj vibrationsmodstand, intet behov for optisk vibrationsisolering
◆ Understøtter kollimerede stråler og store NA konvergerede stråler
Denne BOJIONG Ultra High Resolution Wavefront Analyzer brugt i laserstrålebølgefrontdetektion, adaptiv optik, overfladeformmåling, optisk systemkalibrering, optisk vinduesdetektion, optisk plan, sfærisk overfladeformmåling, overfladeruhedsdetektion.
laserstrålebølgefrontdetektion |
Optisk plan overfladeformmåling |
Optisk sfærisk overfladeformmåling |
Aberrationsmåling af optiske systemer |
Optisk detektering af vinduesstykker |
Måling af gitterfordeling inde i materialet |
Adaptiv optik - bølgefrontdetektionsrespons i Zernike-tilstand |
|
BOJIONG Ultra High Resolution Wavefront Analyzer udviklet af et team af professorer fra Zhejiang University og Nanyang Technological University of Singapore, med indenlandsk patenteret teknologi, kombinerer den diffraktion og interferens for at opnå en fælles fire-bølge tværgående forskydningsinterferens med overlegen detektionsfølsomhed og anti- vibrationsydelse, og kan realisere real-time og højhastigheds dynamisk interferometri uden vibrationsisolering. Realtidsmålingen viser en billedhastighed på mere end 10 billeder. Samtidig har FIS4-sensoren en ultrahøj faseopløsning på 512×512 (260.000 fasepunkter), målebåndet dækker 200nm~15μm, målefølsomheden når 2nm, og målingens repeterbarhed er bedre end 1/1000λ ( RMS). Det kan bruges til laserstrålekvalitetsanalyse, plasmaflowfeltdetektion, realtidsmåling af højhastighedsflowfeltfordeling, billedkvalitetsevaluering af optisk system, mikroskopisk profilmåling og kvantitativ fasebilleddannelse af biologiske celler.
Adresse
nr. 578 Yingkou Road, Yangpu District, Shanghai, Kina
Tlf /