FIS4 Ultra-høj opløsning Bølgefrontsensor 400-900NM
Bojiong FIS4 Wavefront Sensor 400-900Nm bruger innovativ fire-bølgee lateral forskydning interferometri -teknologi. Med en ultrahøj densitet på 512 × 512 (over 260.000) fasedetektionspunkter opnår det nanometerniveau bølgefrontopløsning. De WaveFront -sensor Opretholder 2nm RMS -målingsnøjagtighed i standardmiljøer uden vibrationsisolering og udsender en fuld pakke med optiske specifikationer, herunder Zernike -koefficienter, PSF og MTF, i fuld opløsning med 5 billeder i sekundet. Udnyttelse af en indenlandsk produceret tilfældigt kodet gitter og adaptiv løsningsalgoritme fungerer det stabilt i komplekse industrielle miljøer, herunder dem, der er karakteriseret ved vibration og temperatursvingninger. Det giver en meget pålidelig bølgefrontmålingsløsning til fremstilling af ultra-præcision, optoelektronisk systemsamling og banebrydende videnskabelig forskning.
BojiongFIS4 Wavefront Sensor 400-900Nm Indledning
DeFIS4 Ultra-høj opløsning Bølgefrontsensor 400-900NM er vores virksomheds næste generations flagskibs optiske måleinstrument. Det gælder ISO 9001 -certificering af kvalitetsstyringssystem og kan spores til China National Institute of Metrology (NIM). Det kommer med enen-år garanti. Denne sensor anvender et proprietært Common-Path Interferometer Optical System og Real-Time Wavefront Solution Architecture, der eliminerer behovet for faseskift eller referencespejle. Det kan opnå stabile 512 × 512 ultrahøj opløsningsbølgefrontmålinger, selv i miljøer med høj vibration.
Med sin 2 nm RMS ultrahøj præcision, ≥160 μm bred dynamisk rækkevidde og 5 rammer/anden fuldparameter realtidsudgangsevne,FIS4 WAVEFRONT -sensorKan nøjagtigt fange kortvarige bølgefrontoplysninger og afvigelser med høj orden. Det er vidt anvendeligt på felter såsom laserstråle diagnose, fri-form overfladeinspektion, adaptiv optik og ultra-præcision fremstilling. Det opnår virkelig "opstartsmåling uden vibrationsisolering", hvilket forbedrer effektiviteten og pålideligheden af optisk inspektion med høj præcision.
BojiongFIS4 Wavefront Sensor 400-900Nm Parameter (specifikation)
|
Lyskilde |
Kontinuerlig laser, pulseret laser, LED, halogenlampe og andre bredspektret lyskilder |
|
Bølgelængdeområdet |
400 ~ 900nm |
|
Målstørrelse |
13,3 × 13,3 |
|
Rumlig opløsning |
26 mm |
|
Fase outputopløsning |
512 × 512 |
|
Absolut nøjagtighed |
15nmrms |
|
Faseopløsning |
≤2nmrms |
|
Dynamisk rækkevidde |
≥160μm |
|
Prøvehastighed |
40fps |
|
Realtidsbehandlingshastighed |
5Hz(i fuld opløsning) |
|
Interfacetype |
USB3.0 |
|
Størrelse |
70x46.5x68.5 |
|
Vægt |
Omkring 240 g |
|
Kølemetode |
Nen |
BojiongFIS4 Wavefront Sensor 400-900Nm Funktion og anvendelse
Siden 2006,Professor Yang Yongying's team ved Zhejiang University har lanceret Wide-Spectrum FIS4-serienBølgefrontsensorer Efter 17 års forskning og udvikling ved hjælp af fælles-path-design og realtidsbølgefrontrekonstruktionsalgoritmer.
· Enkelt optisk sti-design eliminerer behovet for referencelys, hvilket muliggør plug-and-play-operation.
· Detektion af realtid af bølgefrontdata er mulig uden behov for en vibration
Isoleringsplatform.
· Følsomhed kan nå 2nm RMS.
· Opløsning når 512 × 512.
· Størrelse er kun størrelsen på en knytnæve.
DenneFIS4 Ultra-høj opløsning Bølgefrontsensor 400-900NM er specifikt udviklet til at hjælpe videnskabelig forskning og industrielle scenarier med høj præcision. Dens ultrahøj opløsning kan registrere flere bølgefrontoplysninger om objektet, der testes. Den har en ultrahøj opløsning på 512 × 512 (262.144) fasepunkter, en bred spektral respons på 400-900nm og en 5-ramme fuld opløsning i realtid 3D-skærm i realtid. Det tilvejebringer et ideelt bølgefrontsenserende måleværktøj til laserstrålebølgefrontdetektion, adaptiv optik, planeoverflademåling, optisk systemkalibrering, optisk vinduesdetektion, optisk sfærisk overflademåling, detektion af overfladegruhed og overflademikro-profilering.
Bojiong FIS4 Wavefront Sensor 400-900Nm Anvendelse
|
Laser Beam Wavefront Detection |
Optisk plan overfladeformmåling |
|
Optisk sfærisk overfladeformmåling |
Aberrationsmåling af optiske systemer |
|
Optisk detektion af vinduesstykke |
Måling af gitterfordeling inde i materialet |
|
Zernike Mode Wavefront Sensing Response |
|
BojiongFIS4 Wavefront Sensor 400-900Nm Detaljer
DeFIS4 Ultra-høj opløsning Bølgefrontsensor 400-900NM Anvendelse af patenteret, uafhængigt udviklet, tilfældigt kodet fire-bølgediffraktionsteknologi og opnå selvinterference af den målte bølgefront ved hjælp af en enkelt-sti lyskilde. Denne interferensproces forekommer i det bageste billedplan. Denne teknologi reducerer kravene til lyskilde-sammenhæng markant, hvilket eliminerer behovet for faseforskydere og muliggør interferometriske målinger med høj præcision med konventionelle billeddannelsessystemer. Produktet udviser enestående modstand mod miljømæssige vibrationer og ultrahøj operationel stabilitet, hvilket opnår måling af nanometerniveau uden behov for en vibrationsisoleringsbase. Sammenlignet med traditionelle mikrolener-array-hartmann-sensorer tilbyder FIS4 betydelige fordele: erhvervelse af højere densitetsfasepunkt, bredere spektralt responsområde og et større dynamisk måleområde, alt sammen med at tilbyde overlegen samlet omkostningsprestation. Med sin innovative tekniske arkitektur, FIS4WaveFront -sensor omdefinerer standarden for optisk måling med høj præcision, hvilket giver en mere pålidelig og omkostningseffektiv avanceret løsning til videnskabelig forskning og industriel test.
Fig.1.Fase Imaging Principle baseret på fire-bølge lateral forskydningsinterferens ved hjælp af tilfældigt kodet hybridgitter (Rehg)
Fig.2.Least Square Wavefront Reconstruction fra fire-bølge lateral forskydning interferogram
DeFIS4 WAVEFRONT -sensor, med sit kompakte design, demonstrerer stor bekvemmelighed, når den er integreret med eksisterende mikroskopisystemer, hvilket muliggør let tilpasning og samarbejdsoperation. I mellemtiden besidder den fremragende robusthed, og selv i relativt barske miljøer som høj vibration kan det stadig nøjagtigt opretholde interferensfølsomhed, hvilket sikrer nøjagtigheden og pålideligheden af måledata.
Det er værd at nævne, at FIS4 WaveFront-sensoren understøtter måling af enkelt-shot, en funktion, der giver den mulighed for effektivt at fange hurtige dynamiske processer og give stærk datastøtte til relevant forskning.
Inden for biomedicinsk forskningFIS4 WAVEFRONT -sensorhar brede og vigtige applikationer. Det kan opnå etiketfrit, højopløsnings- og realtidsafbildning af forskellige levende celler, såsom COS-7, HT1080-celler, RPE-celler, CHO-celler, HEK-celler og neuroner, hvilket giver klare og meget værdifulde billeddannelsesdata til dybdegående forskning på cellulære niveauer fysiologiske mekanismer og andre undersøgelser. Tilførsel i forhold til faseforsinkelseFIS4 WAVEFRONT -sensorUdfører også fremragende, hvilket giver stærk kontrast til klart at visualisere anisotropiske væv og subcellulære strukturer, såsom kollagenfibre og cytoskeletoner, hvilket hjælper forskere med bedre at observere og analysere mikroskopiske strukturstræk.
Ikke kun det, denne teknologi er blevet udvidet yderligere til feltet med faseafbildning i røntgenstrålingen, infrarød midtbølgelængde (MWIR) og langvarig infrarød (LWIR) regioner, hvilket fuldt ud demonstrerer sit store potentiale i tværfaglige applikationer og åbner nye ideer og metoder til multidisciplinær krydsforskning.
Desuden i nylige studierFIS4 WAVEFRONT -sensorhar også været vidt brugt til karakterisering af metasurfaces og to-dimensionelle materialer, som utvivlsomt fremhæver dets mange praktiske værdier og potentielle vigtige betydning inden for optik- og materialevidenskab og giver et kraftfuldt teknisk middel til den videre udvikling af relaterede felter.
Adresse
Nr. 578 Yingkou Road, Yangpu District, Shanghai, Kina
Tlf
